詳細書目資料

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Fundamental principles of engineering nanometrology [electronic resource]

  • 作者: Leach, R. K.
  • 其他題名:
    • Micro & nano technologies
  • 出版: Oxford, OX : Elsevier, William Andrew
  • 版本:2nd ed.
  • 叢書名: Micro & nano technologies series
  • 主題: Metrology. , Microtechnology. , Nanotechnology
  • ISBN: 9781455777532 (electronic bk.)
  • FIND@SFXID: CGU
  • 資料類型: 電子書
  • 內容註: Includes bibliographical references and index.
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  • 系統號: 005136107 | 機讀編目格式
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