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Fundamental principles of engineering nanometrology [electronic resource]
- 作者: Leach, R. K.
- 其他題名:
- Micro & nano technologies
- 出版: Oxford, OX : Elsevier, William Andrew
- 版本:2nd ed.
- 叢書名: Micro & nano technologies series
- 主題: Metrology. , Microtechnology. , Nanotechnology
- ISBN: 9781455777532 (electronic bk.)
- FIND@SFXID: CGU
- 資料類型: 電子書
- 內容註: Includes bibliographical references and index.
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讀者標籤:
- 系統號: 005136107 | 機讀編目格式