Reliability of high mobility SiGe channel MOSFETs for future CMOS applications [electronic resource]

• 作者： Franco, Jacopo.
• 其他作者：
  • Kaczer, Ben.
  • Groeseneken, Guido.
  • SpringerLink (Online service)
• 其他題名：
  • Springer series in advanced microelectronics ;
• 出版： Dordrecht : Springer Netherlands :Imprint: Springer
• 叢書名： Springer series in advanced microelectronics ;v.47
• 主題： Metal oxide semiconductor field-effect transistors--Reliability. , Metal oxide semiconductors, Complementary--Reliability. , Physics , Semiconductors , Circuits and Systems. , Optical and Electronic Materials. , Electronic Circuits and Devices.
• ISBN： 9789400776630 (electronic bk.) 、 9789400776623 (paper)
• FIND@SFXID: CGU
• 資料類型: 電子書
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