原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope

• 作者： 汪島軍 作
• 其他題名：
  • Patent analysis of atomic force microscope
  • 奈米科技專利研究系列 ;
• 出版： 臺北市 : 科資中心
• 版本：第一版
• 叢書名： 奈米科技專利研究系列 ;8
• 主題： 奈米技術 , 電子顯微鏡
• ISBN： 9576191173 (平裝): NT$1500
• 資料類型: 圖書
• 內容註: 參考書目 : 面63 附錄A : AFM專利摘要表 ; 附錄B : AFM系統整體技術群聚專利引用關係
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