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發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent

  • 作者： 張仁平 編著
  • 其他題名：
    • Guidelines for substantive examination of invention patent
  • 出版： 臺北市 : 經濟部智慧局
  • 版本：初版
  • 叢書名： 智慧財產培訓學院教材 ;8
  • 主題： 專利法規 , 發明
  • ISBN： 9789860404630 (平裝): NT$400
  • 資料類型: 圖書
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  • 系統號： 005334286 | 機讀編目格式

    • 館藏資訊

    本教材乃依序說明專利審查基準總則部分之國際相關法規、審查基準及案例，其內容主要係依據經濟部智慧財產局二○一三年一月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第十一章之內容，於各章中首先列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範，包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約（EPC）、美國、實質專利法條約（SPLT）草案、與貿易有關之智慧財產權協定（TRIPS）與專利合作條約（PCT）等，以

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