詳細書目資料

8
0
0
0
0

發明專利實體審查基準. (一), 國際法規與案例彙編

  • 作者: 張仁平 著
  • 其他題名:
    • 國際法規與案例彙編
    • Guidelines for substantive examination of invention patent.: Compilation of international regulations and case studies
  • 出版: 臺北市 : 經濟部智慧局
  • 版本:二版
  • 叢書名: 智慧財產培訓學院教材 ;47
  • 主題: 專利法規 , 發明
  • ISBN: 9789860213881 (平裝): 新台幣350元
  • 資料類型: 圖書
  • 內容註: 含參考書目
  • 讀者標籤:
  • 引用連結:
  • Share:
  • 系統號: 005294820 | 機讀編目格式
  • 館藏資訊

    回到最上