CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet Degradation Behavior and Damage Mechanisms / [electronic resource] :

• 作者： Li, Flora M..
• 其他作者：
  • Nathan, Arokia.
  • SpringerLink (Online service)
• 出版： Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg
• 叢書名： Microtechnology and MEMS
• 主題： Image processing--Digital techniques , Remote sensing , Service life (Engineering) , Charge coupled devices. , Chemistry , Optical and Electronic Materials. , Electronics and Microelectronics, Instrumentation. , Physics and Applied Physics in Engineering. , Optical Spectroscopy, Ultrafast Optics.
• ISBN： 9783540274124 (electronic bk.) 、 9783540226802 (paper)
• FIND@SFXID: CGU
• 資料類型: 電子書
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