發明專利實體審查基準. Substantive examination guidelines for invention patent / (二) =

• 作者： 張仁平 編著
• 其他題名：
  • Substantive examination guidelines for invention patent.
  • Guidelines for substantive examination of invention patent.
• 出版： 臺北市 : 經濟部智慧財產局
• 版本：二版
• 叢書名： 智慧財產培訓學院教材 ;8
• 主題： 專利--標準
• ISBN： 9860076936 (平裝): NT$450 、 9789860076936 (平裝): NT$450
• 資料類型: 圖書
• 內容註: 含參考書目 含附錄 指導單位 : 經濟部智慧財產局 封面英文題名 : Guidelines for substantive examination of invention patent (2)
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• 語文註：部份內容為英文
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