Fundamental principles of engineering nanometrology

• 作者： Leach, R. K.
• 出版： Oxford :Amsterdam : William Andrew ;Elsevier Science
• 版本：1st ed.
• 叢書名： Micro and nano technologies
• 主題： Nanotechnology , Microtechnology. , Metrology.
• ISBN： 9780080964546 (hbk.) 、 0080964540 (hbk.)
• 資料類型: 圖書
• 內容註: Includes bibliographical references and index.
• More
• 讀者標籤：

  需登入
• 引用連結：

  Copy Link
• 目前引用數
• Share: