超大規模集成電路測試 : 數字、存儲器和混合信號系統

• 作者： 布什內爾 (Bushnell, Michael L.) 著
• 其他作者：
  • Agrawal, Vishwani D. 1943- 著
  • 蔣安平 譯
  • 馮建華 譯
  • 王新安 譯
  • Bushnell, Michael L. 1950- Michael Lee
  • Agrawal, Vishwani D. 1943-
• 其他題名：
  • Essentials of Electronic Testing of Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits
  • 數字、存儲器和混合信號系統
  • 超大规模集成电路测试 :: 数字、存储器和混合信号系统
  • 國外電子與通信教材系列
• 出版： 北京市 : 電子工業出版 :新華經銷
• 叢書名： 國外電子與通信教材系列
• 主題： 測試技術 , 超大規模集成電路
• ISBN： 7121014904 (平裝): 人民幣58元
• 資料類型: 圖書
• 內容註: 參考書目 : 面474-511 附錄 : A. 測試的未來 ; B. 循環冗余碼理論 ; C. 級數從1到100的本原多項式 ; C. 有關測試的書籍 簡體字本 作者號取自譯者 譯自:Essentials of Electronic Testing of Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits
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