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發明專利實體審查基準. Guidelines for substantive examination of invention patent : compilation of international regulations and case studies / (一), 國際法規與案例彙編 =

  • 作者: 張仁平 編著
  • 其他作者:
  • 其他題名:
    • Guidelines for substantive examination of invention patent.: compilation of international regulations and case studies
  • 出版: 臺北市 : 經濟部智慧財產局
  • 版本:初版
  • 叢書名: 智慧財產培訓學院教材 ;47
  • 主題: 專利--標準
  • ISBN: 9860078939 (平裝): NT$350 、 9789860078930 (平裝): NT$350
  • 資料類型: 圖書
  • 內容註: 參考書目 : 面303 含附錄
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  • 系統號: 005269526 | 機讀編目格式
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