Integrated circuit failure analysis : a guide to preparation techniques

• 作者： Beck, F. 1927- Friedrich
• 其他題名：
  • Praparationstechniken fur die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen
  • Wiley series in quality and reliability engineering
• 出版： Chichester ;New York : Wiley
• 叢書名： Wiley series in quality and reliability engineering
• 主題： Semiconductors--Failures , Semiconductors--Testing
• ISBN： 0471974013 (hbk.): US$115.00
• 資料類型: 圖書
• 內容註: Includes bibliographical references and index
• More
• 讀者標籤：

  需登入
• 引用連結：

  Copy Link
• 目前引用數
• Share: