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Kelvin probe force microscopy measuring and compensating electrostatic forces / [electronic resource] :
- 其他作者：
- 其他題名：
- Springer Series in Surface Sciences,
- 出版： Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg
- 叢書名： Springer Series in Surface Sciences,48
- 主題： Atomic force microscopy , Electrostatics--Measurement. , Materials science , Surfaces and Interfaces, Thin Films. , Thermodynamics , Engineering Thermodynamics, Heat and Mass Transfer.
- ISBN： 9783642225666 (electronic bk.) 、 9783642225659 (paper)
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FIND@SFXID:
CGU
- 資料類型: 電子書
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讀者標籤：
- 系統號： 005081897 | 機讀編目格式
館藏資訊
