Quantitative data processing in scanning probe microscopy SPM applications for nanometrology / [electronic resource] :

• 作者： Klapetek, Petr, author.
• 其他題名：
  • Micro & nano technologies
• 出版： Amsterdam : William Andrew
• 版本：First edition.
• 叢書名： Micro & nano technologies series
• 主題： Scanning probe microscopy , Scanning probe microscopy--Data processing. , Qualitative research--Data processing.
• ISBN： 9781455730582 (electronic bk.) 、 9781455730582
• FIND@SFXID: CGU
• 資料類型: 電子書
• 內容註: Includes bibliographical references and index.
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