Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis

• 作者： Wang, Zhong Lin
• 出版： Cambridge ;New York : Cambridge University Press
• 主題： Materials--Microscopy , Surfaces (Technology)--Analysis , Reflection electron microscopy , Surfaces Analysis
• ISBN： 0521482666 :: US$95.00
• 資料類型: 圖書
• 內容註: Includes bibliographical references (p. 419-430) and indexes
• More
• 讀者標籤：

  需登入
• 引用連結：

  Copy Link
• 目前引用數
• Share: