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Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories
- 作者： Chakraborty, Kanad
- 其他作者：
- 其他題名：
- Prentice Hall modern semiconductor design series
- 出版： Upper Saddle River, NJ : Prentice Hall
- 叢書名： Prentice Hall modern semiconductor design series
- 主題： Random access memory--Reliability , Integrated circuits--Fault tolerance , Semiconeductor storage devices
- ISBN： 0130084654 (hbk.): US$98.00
- 資料類型: 圖書
- 內容註: Includes bibliographical references (p. 377-417) and index
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讀者標籤：
- 系統號： 005246723 | 機讀編目格式
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