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Microelectronic manufacturing yield, reliability, and failure analysis IV : 23-24 September, 1998, Santa Clara, California
- 作者： Prasad, Sharad
- 其他作者：
- 出版： Bellingham, Washington : SPIE
- 叢書名： SPIE proceedings series ;v. 3510
- 主題： Microelectronics , Integrated circuits--Very large scale integration , Integrated circuits--Reliability , Integrated circuits--Defects , Integrated circuits--Testing
- ISBN： 0819429694 (pbk.): US$69.00
- 資料類型: 圖書
- 內容註: Includes bibliographical references and author index
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讀者標籤：
- 系統號： 005227700 | 機讀編目格式
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