Microelectronic manufacturing yield, reliability, and failure analysis IV : 23-24 September, 1998, Santa Clara, California

• 作者： Prasad, Sharad
• 其他作者：
  • Hartmann, Hans-Dieter
  • Tsujide, Tohru
• 出版： Bellingham, Washington : SPIE
• 叢書名： SPIE proceedings series ;v. 3510
• 主題： Microelectronics , Integrated circuits--Very large scale integration , Integrated circuits--Reliability , Integrated circuits--Defects , Integrated circuits--Testing
• ISBN： 0819429694 (pbk.): US$69.00
• 資料類型: 圖書
• 內容註: Includes bibliographical references and author index
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