Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production

• 作者： Jakubowski, Andrzej
• 其他作者：
  • Marciniak, Wiesaw
  • Przewocki, Henryk M
• 其他題名：
  • Advanced series in electrical and computer engineering ;
• 出版： Singapore ;Teaneck, NJ : World Scientific
• 叢書名： Advanced series in electrical and computer engineering ;vol. 7
• 主題： Integrated circuits--Very large scale integration--Design and construction , Integrated circuits--Very large scale integration--Testing
• ISBN： 9810202822 :: US$58.00
• 資料類型: 圖書
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