Assessing fault model and test quality

• 作者： Butler, Kenneth M 1962-
• 其他作者：
  • Mercer, Melvin Ray
• 出版： Boston : Kluwer Academic
• 叢書名： VLSI, computer architecture and digital signal processing ;SECS 157
• 主題： Digital integrated circuits--Testing , Fault-tolerant computing
• ISBN： 0792392221 :: US$63.00
• 資料類型: 圖書
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