資料來源:
三民書局
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戰勝考試焦慮 : 幫助學生克服考試壓力
- 作者： 張有才 (Chye, Teo Yew) 著
- 其他作者：
- 其他題名：
- Fighting off test anxiety :: helping students beat test/exam stress
- 出版： 臺北市 : 心理
- 版本：初版
- 叢書名： 親師關懷 ;29
- 主題： 考試 , 焦慮 , 學習方法
- ISBN： 9789861911816 (平裝): NT$130
- 資料類型: 圖書
- 內容註: 參考書目:面74 附錄:給父母和老師的放鬆腳本 譯自:Fighting off test anxiety:helping students beat test/exam stress
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- 系統號： 005286142 | 機讀編目格式
館藏資訊
這本書要獻給世界上所有默默承受「考試焦慮」痛苦的兒童與青少年，希望透過本書能讓父母、老師以及學生們能夠更緊密的在一起工作，而讓學習更加有趣。 這本書很獨特，因為作者不但為父母以及老師，而且是為學生而寫。作者從生動的介紹考試焦慮的原因開始，再設計了七個活動讓孩子或學生從「玩」的過程當中，暸解「考試焦慮」的來源以及解決之道，期望透過這些有理論根據的方法，讓親子或師生間能有更多
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