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戰勝考試焦慮 : 幫助學生克服考試壓力
- 作者: 張有才 (Chye, Teo Yew) 著
- 其他作者:
- 其他題名:
- Fighting off test anxiety :: helping students beat test/exam stress
- 出版: 臺北市 : 心理
- 版本:初版
- 叢書名: 親師關懷 ;29
- 主題: 考試 , 焦慮 , 學習方法
- ISBN: 9789861911816 (平裝): NT$130
- 資料類型: 圖書
- 內容註: 參考書目:面74 附錄:給父母和老師的放鬆腳本 譯自:Fighting off test anxiety:helping students beat test/exam stress
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- 系統號: 005286142 | 機讀編目格式