詳細書目資料

3
0
0
0
0

戰勝考試焦慮 : 幫助學生克服考試壓力

  • 作者: 張有才 (Chye, Teo Yew) 著
  • 其他作者:
  • 其他題名:
    • Fighting off test anxiety :: helping students beat test/exam stress
  • 出版: 臺北市 : 心理
  • 版本:初版
  • 叢書名: 親師關懷 ;29
  • 主題: 考試 , 焦慮 , 學習方法
  • ISBN: 9789861911816 (平裝): NT$130
  • 資料類型: 圖書
  • 內容註: 參考書目:面74 附錄:給父母和老師的放鬆腳本 譯自:Fighting off test anxiety:helping students beat test/exam stress
  • 讀者標籤:
  • 引用連結:
  • Share:
  • 系統號: 005286142 | 機讀編目格式
  • 館藏資訊

    回到最上