積體電路測試之實務分析與研究 = The Practical Analysis and Research of Integrated Circuit Testing

• 作者： 著 陳景聰 (民95電機工程學研究所)
• 其他作者：
  • 陳仁德 指導
  • Chen, R. D.
• 出版： 桃園縣 : 長庚大學
• 版本：初版
• 資料類型: 博碩士論文
• 內容註: 碩士論文-- 長庚大學電機工程學研究所 含參考書目 校內電子全文開放日期： 2009/1/1 校外電子全文開放日期： 不公開 畢業學年度: 95 指導教授: 陳仁德
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